LW200-4JT高清晰正置金相顯微鏡適用于廠礦企業(yè)、高等院校及科研機構(gòu)作金相、巖相、礦相等材料表面組織結(jié)構(gòu)的薄片觀察檢測。也可用于電子工業(yè)部門作晶體,金屬陶瓷、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、芯片及新材料等方面的檢驗與分析。采用進口光學(xué)鏡片,*的100X干鏡可媲美國外同類產(chǎn)品,為國內(nèi)市場配置Z的產(chǎn)品
更新時間:2016-08-17型號:廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
現(xiàn)在聯(lián)系